Войти
Мониторинг выбранных ионов (SIM) - это режим сканирования масс-спектрометрии, в котором доступен только ограниченный диапазон отношения массы к заряду. передается / обнаруживается прибором, в отличие от полного диапазона спектра. Этот режим работы обычно приводит к значительному повышению чувствительности. Из-за присущей им природы этот метод является наиболее эффективным - и, следовательно, наиболее распространенным - на квадрупольных масс-спектрометрах и масс-спектрометрах с ионным циклотронным резонансом с преобразованием Фурье.
